Учеными был представлен метод улучшения атомно-силовой микроскопии

Команда исследователей презентовала новый метод для улучшения атомно-силовой микроскопии.

По словам специалистов, чтобы получить изображение высоты, атомно-силовая микроскопия обычно применяется для сканирования поверхностей материалов. Такой метод не способен с точностью определять молекулярный состав.

Экспертами было разработано новое устройство, добавляющее адаптивную коррекцию оптики в коммерческие оптические микроскопы. По словам экспертов, улучшенная технология позволит углубить понимание ученых о биологии и поможет в создании более эффективных лекарственных препаратов. Кроме этого, были презентованы новые линзы, которые демонстрируют легкость процесса установки устройства на объектив микроскопа.